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800G/1.6T光模塊研發與量產解決方案?? 實現高效、準確的測試，滿足光通信領域的不斷發展和創新！

FA/JUMPER新型連接器測試解決方案

維度科技在多芯極性插回損儀的基礎上升級迭代，為客戶提供一站式的FA/JUMPER測試解決方案，兼顧不同分支數、不同角度的FA器件測試，快速測試IL、RL、極性，提高生產檢驗的效率。

方案介紹
方案優勢
相關產品

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方案概述

FA/JUMPER器件隨著光模塊的發展也迎來了新的市場需求；與傳統連接器不同，FA/JUMPER器件尾端的晶體端面不能直接進行物理對接，并且器件的長度也普遍較短，因此在插入損耗、回波損耗測試上存在漏光、回損測試不準等問題，同時也不能用常規的極性檢測儀測試光纖極性。

為此維度科技在多芯極性插回損儀的基礎上升級迭代，為客戶提供一站式的FA/JUMPER測試解決方案，兼顧不同分支數、不同角度的FA器件測試，快速測試IL、RL、極性，提高生產檢驗的效率。


主要優勢

· 支持單模、多模FA器件測試

· 波長可定制，如1270,1490,1625nm等

· 一站式測試IL、RL、極性，無需兩端對接

· FA特定回損模式，鎖定測距更準確

· 專利設計視覺檢測極性

· 豐富的FA夾具、接口，輕松替換

· 探測接口可外置，適配多分支FA或Z-BLOCK器件

· 可在已有極性插回損儀升級，低成本迭代

· 可定制阿基米德積分球，測試2000+芯數FA


主要應用

· MT-FA器件

· JUMPER

· Z-BLOCK連接器

· 光模塊內部微型連接



方案特點

· 功能豐富可自定義的軟件，支持數據庫

· 可測試Tx端IL、ISO隔離度，Rx端IL、RL

· 全平臺架構，可集成維度端檢、干涉儀檢測



豐富的接口設計，穩定夾持，多維光機件精密微調

傳統插回損儀在測試FA器件時往往存在接口不適配，對接不緊密導致漏光或偏離角度造成插損測試數值不準確的問題。

維度科技提供夾具+接口的設計方式，便于用戶快速操作，能夠夾持穩定，并且不劃傷端面，減少誤差。

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為了適配一些較寬的FA器件或是多分支端口同時接入測試的情況，插回損儀積分球的接口進行了適配升級，入光口徑>10mm并在接口邊緣進行了防漏光設計。

在MT-FA測試需求下，維度科技提供多維度調節的光機平臺幫助用戶實現多端同時測試。該光機組件預留足夠的調節維度數，若需要更換被測件時，只需手動調校到新被測件合適的位置和角度即可。



一步檢測插入損耗、回波損耗、極性，解決FA極性痛點

FA/JUMPER器件由于無法直接對接極性測試儀的MPO接口，導致TOSA/ROSA陣列的極性測試方法失效。維度科技首發專利提出的視覺檢測極性方案能夠有效解決這一痛點，并且內置于插回損儀內部，用戶只需要一步操作接入被測件，就可以檢測FA/JUMPER器件的IL、RL、極性。

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該測試方案能夠實現自動測試IL、RL、極性，用戶如測試大芯數光纖陣列器件（如2000+芯數以上），也可以通過大容量積分收光實現測試。對于多分支FA器件，軟件可智能整理極性順序，并統一生成報告。


半自動化測試，快速提效

采用電機半自動移動 FA 平臺結構，可實現雙器件快速測試。用戶可在當前器件測試時進行下一器件的裝配、夾持及掃碼等工作，60s內可完成兩次極性及插回損測試。同時，用戶可針對具體使用通道情況進行自定義編輯，同時兼容 12 芯、16 芯、24 芯 MT-FA 器件分區測試。 

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