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插回損測試 插回損測試
插回損測試
精確診斷,優化您的光纖連接質量

插回損測試是光纖通信領域中的一個重要測試項目,主要用于評估光纖連接器、適配器、光纖跳線等設備在連接時產生的光損。隨著光纖通信技術的發展和廣泛應用,對光纖連接的質量要求越來越高,插回損的測試顯然必不可少。維度科技全新系列插回損儀,采用OTDR原理(光時域反射)免去傳統插回損測試中繁瑣的光纖尾端纏繞,結合專業的軟件算法高精度地檢驗光器件的插回損。

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為您提供全系列的高性能插回損方案!

適應全場景下的光無源器件插回損檢測;

測試速度快、測量范圍廣、測試精度高;

滿足單芯、雙聯、多芯光纖和單、多模測試需求;

基于FreeDesign平臺的模塊化設計,是目前業界系列最全的插回損測試解決方案,

并持續迭代新的衍生產品如可靠性測試插回損測試系統、多芯極性插回損測試儀等。


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如何革新您的測試效率?

多年來維度科技的工程師專注于迭代方案,多個工位合一的可能性,通過軟件、設備的升級和巧妙設計思考成功推出了革新性的產品。如將MPO的插回損和極性合一的多通道極性插回損儀,提升多芯檢測在這一工位上600%的效率;JumperRun端檢-干涉-插回損三位一體檢測儀將單芯檢測的工藝化繁為簡,為優化測試流程給出了維度的答案。

維度科技將持續在創新上走在最前沿,快速響應800G光通信激增需求下的機遇。


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