產(chǎn)品概述

主要優(yōu)勢

波長精度±20pm
掃描速度100nm/s
高信噪比和邊模抑制比
全波段無跳模
C+L波段或O波段可選

主要應(yīng)用

WDM掃描測試
光無源系統(tǒng)測試
波長相關(guān)性測試
特定波長輸出
光譜學(xué)

超高的波長精度、重復(fù)性和穩(wěn)定性，輸出功率穩(wěn)定

TopLight可調(diào)諧光源通過精密的機(jī)電控制保證光源的波長精度能夠達(dá)到±20pm，即便是在高速掃描的過程中波長的重復(fù)性和穩(wěn)定性也依然可靠。在不同的測試環(huán)境下，TopLight也能夠針對環(huán)境變化進(jìn)行補(bǔ)償，保證波長精度穩(wěn)定可靠。

光源的輸出功率對于波長相關(guān)性進(jìn)行了嚴(yán)格的擬合，保證功率曲線的平坦度高于0.2dB/nm，減少功率對于測試系統(tǒng)所帶來的誤差。

輸出光譜信噪比、邊模抑制比高

TopLight采用外腔諧振的原理調(diào)諧波長，通過精密的光學(xué)、機(jī)電控制系統(tǒng)保證諧振腔輸出的窄線寬激光始終具備良好的信噪比和邊模抑制比，為進(jìn)行嚴(yán)密的波長掃描系統(tǒng)提供了優(yōu)秀的測試環(huán)境和條件。

全波段內(nèi)實(shí)現(xiàn)均勻無跳模，保證波長曲線連續(xù)

維度科技專業(yè)的光機(jī)電算整合能力為可調(diào)諧光源的模式控制提供了可靠保障，通過精密的控制和算法，TopLight可以在保證超高掃描速度、波長精度的前

提下，確認(rèn)激光始終輸出主模波長占據(jù)主導(dǎo)，掃描時無需波長校準(zhǔn)件即可完成測試。 

搭配波長掃描系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)光器件掃描測試

維度科技自主開發(fā)的波長掃描系統(tǒng)搭載TopLight可調(diào)諧光源和高速功率計，波長精度可達(dá)±5pm，并實(shí)現(xiàn)100nm/s的快速掃描，為波長相關(guān)性器件提供了

高效精確的測試解決方案。基于多年的設(shè)計經(jīng)驗(yàn)，維度科技提供了人機(jī)交互性好的系統(tǒng)軟件，讓用戶清晰簡單地完成波長掃描測試，用戶只需要輕點(diǎn)測試

按鈕，就能獲取詳細(xì)的測試報告。并且，由于平臺+模塊化的設(shè)計架構(gòu)，維度科技的設(shè)備在需求變動時具有極高的靈活性，只需要增減或替換模塊即可升級

成新的測試環(huán)境，為用戶節(jié)省了大量的時間和經(jīng)濟(jì)成本。

多可選擇波長范圍，覆蓋多種器件應(yīng)用場景