可移動的一站式測量系統
支持實時測量與長時間穩定性監測
支持插入損耗與回波損耗同時監測
測量誤差小,測試穩定性高
支持最高可達128ch的多路同時測試 
豐富的接口配置

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產品概述

Dimension 光無源器件可靠性測試系統可以根據需求調整裝配不同的模塊,適用于對市面上的現有各類光無源器件的光學性能測試,環境穩定性測試,

老化實驗測試。同時該測試系統為了彌補傳統設備只能在固定地方定點測試的缺點,在外觀上采用拉桿行李箱的樣式,將相關測試模塊與處理數據的上

位機都集成在箱體內部。無需擔心數據處理與信息采集不及時的情況,設備可移動且獨立完成整個測試任務。在生產制造測試領域的現場具有極大的優

勢,是真正為現場而準備的測試設備。


主要優勢

平臺+模塊化設計,應用擴展齊全
可移動的一站式測量系統
支持實時測量與長時間穩定性監測
支持插入損耗與回波損耗同時監測
測量誤差小,測試穩定性高
支持最高可達128ch的多路同時測試 
豐富的接口配置


主要應用

符合各類標準: GR-326-CORE, GR-1435- CORE, 
GR-910-CORE, GR-1209-CORE, GR-2866-CORE, 
Verizon FOC
光無源器件的光學性能檢測
長時間穩定性測試


平臺+模塊化設計,應用擴展方便

維度科技的11槽位OMEGA通用光學測試平臺,可以兼容包含RLM系列插回損測試模塊在內的多種功能測試模塊,具有可熱插拔、可編程、可擴展性

強、易于維護和管理、綜合成本低等顯著優勢。支持網絡、USB、實體按鍵等多種控制方式。


該系統集成了光開關、高穩定光源、高精度光功率計等功能測試模塊,可以實現對無源器件的可靠性測試。

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可移動的一站式測量系統

該系統在外觀上采用拉桿行李箱的樣式,將相關測試設備與處理數據PC都集成在箱體內部,設備可移動且獨立完成整個測試任務。

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設備集成度高,一套系統完成各類測試

不同于傳統的測試方法,維度科技的可靠性測試系統里集成了插回損測試模塊、光開關模塊、光源,可完成插回損一次測量。 

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主要規格參數

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針對IL的測試,更小的誤差,更高的穩定性

該項測試系統使用了更高功率與穩定的SLS光源,通過PLC進行分光,滿足測試中需要的多路同時測試。該系統避開了外接光開光造成對測試穩定

均一性的干擾,也使用了更高穩定性的測試鏈路,完成單對單的高精度插損穩定測試。 


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性能參數

產品基本型號  RTS1112A-1FA-24
光功率計部分模塊類型  單模
探測器類型  InGaAS
探測器大小  2mm
波長測試范圍  850nm~1650nm
光功率測試范圍  +10dBm~-75dBm aT 1550nm(不適用積分球)
線性度  ±0.05dB(+5dBm~-50dBm)
總不確定性  ±(5%+500pM)
功率分辨率  0.001dB
光源部分光纖類型  SM 9/125;Panda PMF
波長 1270、1290、1310、1330、1350、1370、1390、1410、1430、1450、1470、1490、1510、1550、1570、1590、1625、1650
波長精度  ±5nm
輸出功率24小時功率穩定度  ±0.005dB
邊摸抑制比  >50dB
主機部分工作電源  AC90~260V/50HZ
開機穩定時間  20分鐘(儲存與使用一致)  60分鐘(儲存與使用溫度不一致)
建議校準周期  兩年
工作溫度  10℃~40℃
儲存溫度  -40℃~70℃
尺寸  OMEGA機箱:462mmX374mmX171mm


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