WST波長掃描系統-維度科技

產品詳情

維度科技的波長掃描測試系統具備現代化的設計和技術優勢，致力于滿足復雜光通信網絡的測量需求。當前，雖然有多種測試方案如光譜分析儀、光功率計等提供WDM器件的性能數據，但傳統方法常受限于高成本、操作復雜性和靈活性不足。

現狀：為了確保WDM系統的性能和穩定性，開發了多種檢測方案來測試和驗證WDM器件的性能。當前，這些檢測方案主要包括光譜分析儀、光功率計和光時域反射計等，這些設備可以提供關于光信號強度、波長、帶寬和其他重要參數的精確信息。然而，這些傳統的檢測方案往往具有成本高、操作復雜和靈活性差等缺點。

1、靈活可擴展，適應您的變化需求

維度科技的WST波長掃描測試系統不僅可以實時調整光源波長以適應多種測試需求，而且其基于FreeDesign測試平臺的設計允許用戶根據需求定制測試系統配置，如增加偏振相關性質測試模塊等。

2. 精確度與可靠性

結合先進的光學技術和算法，系統提供超過1pm的波長分辨率和±5pm的波長精度，確保高度可靠的測試結果。

3.光源可復用

采用實時同步技術，有效減少對昂貴設備如可調諧光源的需求，實現多工位的復用，既經濟又高效。

4.集成系統化軟件架構
維度科技的WST系統提供全面評估，捕獲各種WDM器件性能參數。其集成的軟件作為系統的核心，為操作員提供了簡單直觀的控制接口。

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1.HOPM高速功率計

維度科技高速光功率計系列模塊具有批量采集工作模式和觸發采集模式,最高可提供10KHz的高速連續采集，動態范圍可達+10dBm~-70dBm，并且配置了1000萬個測量數據的儲存深度。HOPM采用模塊化設計，通過FreeDesign測試平臺可單機搭載至多40通道功率計同時高速采集。

2.FreeDesign智能儀器開發平臺

模塊化儀表是未來的發展趨勢，維度科技適應前沿創新，開發了至多支持11槽位的FreeDesign平臺，可以適配維度科技全系模塊化產品。同時，內置的高性能處理器可以作為整個波長掃描系統的中樞進行調度，并支持所有模塊的同步觸發，簡化測試現場。

3.PPC偏振控制器

WDM器件的測試中必須考慮PDL的測試。維度科技全新開發的PPC偏振控制器支持六態偏振算法，以極高的速率計算器件的偏振損耗，不再需要掃描整個邦加球的出光功率。器件支持多種程序控制方式和網絡通信接口，偏振消光比高，支持C+L波段。

4.回損測試模塊

對于光模塊的端口和WDM器件回損測試需求，維度科技推出了掃描測試方案，通過WSS軟件系統快速生成回損掃描曲線，快速校準測試，提升測試效率。